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PDL/IL多功能测试仪PDL-201

General Photonics公司的PDL/IL测试仪(PDL-201)采用最大值/最小值搜寻法(符合TIA/EIA-455-198标准),能够对器件的偏振相关损耗(PDL)、插入损耗(IL)、光功率进行快速测量,测量速度0.2s。该测试仪工作波长覆盖1260~1620nm,在高、低PDL和各种SOP的情况下都能得到精确的测量结果。该测试仪拥有RS-232、USB 及以太网接口,可以方便地与计算机连接,进行远程控制和数据传输,是精确、快速测量无源器件、DWDM 器件的理想仪器。


主要应用:

1、偏振相关损耗(PDL)的测量

2、插入损耗(IL)的测量

3、器件特性监测



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